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干涉鏡頭

采用通過樣品內(nèi)和樣品外的相干光束產(chǎn)生干涉的方法，把相位差(或光程差)轉(zhuǎn)換為振幅（光強(qiáng)度）變化的物鏡。分辨樣品中的結(jié)構(gòu)，并可測定樣品中一定區(qū)域內(nèi)的相位差或光程差。

實時顯示
無損檢測
軟件專業(yè)
重復(fù)性高
配件多樣
堅固耐磨

產(chǎn)品特色 /實驗內(nèi)容

干涉鏡頭-1.jpg

干涉鏡頭-2.png

干涉鏡頭-3.jpg

產(chǎn)品簡介

干涉測量鏡頭可用在非接觸光學(xué)壓型測量設(shè)備上，通過此鏡頭可得到表面位圖和表面測量參數(shù)等。也可用來檢測表面粗糙度，測量精度非常高，在一個波長內(nèi)。一束光通過分光鏡，可將光直接射向樣品表面和內(nèi)置反光鏡。從樣品表面反射的光線通過再結(jié)合，就產(chǎn)生了干涉圖案。

與Mirau鏡頭比起來，Michelson鏡頭擁有更長的工作距離，更寬的視場和更大的焦深。Mirau鏡頭用在需要高倍率和/或大數(shù)值孔徑的場合。采用Nikon 200mm鏡筒的話可將鏡頭直接裝配到C接口相機(jī)上。

應(yīng)用范圍

用于三維表面形貌儀，表面輪廓儀，白光干涉顯微鏡等測量設(shè)備的鏡頭。

適用型號：

MicroXAM系列、Newview7000系列、Newview8000系列，

Wyko各型號、Contour Elite系列、ContourGT系列、

Talysurf系列、SMARTWLI系列等，

幾乎所有的白光干涉原理非接觸式表面三維形貌測量儀。

型號類別

包含多型號：

2.5xNikon干涉鏡頭

5xNikon干涉物鏡